納米粒度及Zeta電位分析儀

描述：Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小，其表面的晶體結構發(fā)生變化，從而在電學、光學和化學活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù)，準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關鍵參數(shù)，Zeta電位越高，膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定，反之，Zeta電位越

更新日期：2024-01-19

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　　納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小，其表面的晶體結構發(fā)生變化，從而在電學、光學和化學活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù)，準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關鍵參數(shù)，Zeta電位越高，膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定，反之，Zeta電位越低，膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性就越差，因此通過測量和調(diào)整體系的Zeta電位，就可以控制膠體的穩(wěn)定性。因此，廣泛應用于產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學研究，以便深入了解產(chǎn)品特性。

技術類型	Zetatronix?939系列查看詳情采用多角度動態(tài)光散射技術，提供更高分辨率的粒度測量結果	Zetatronix?929系列查看詳情采用背向動態(tài)光散射技術，可以測量高濃度樣品的粒度	Zetatronix?919系列查看詳情采用經(jīng)典動態(tài)光散射技術測量粒度
經(jīng)典動態(tài)光散射（DLS）	√		√
背向動態(tài)光散射（BSDLS）	√	√
多角度動態(tài)光散射（MADLS）	√
測量角度	11°、90°、175°	11°、175°	11°、90°
測量類型
粒度	√	√	√
Zeta電位	√	√	√
分子量	√		√
溫度/時間趨勢	√	√	√